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[常见问题解答]解析IGBT模块散热系统的设计与热管理技术[ 2025-04-21 15:11 ]
IGBT(绝缘栅双极型晶体管)模块在功率电子设备中被广泛应用,由于其在高功率、高电压下的工作特点,散热管理成为其设计中的重要环节。有效的热管理不仅能提升系统的效率,还能延长设备的使用寿命。一、散热设计的基础原则IGBT模块在工作时会产生大量的热量,这些热量必须迅速有效地散发出去,否则将导致器件温度过高,甚至可能导致损坏。散热设计的核心目标是确保模块的温升控制在安全范围内,同时降低系统的能量损耗。热管理设计通常从以下几个方面入手:- 热阻分析:热阻是热流从源头到散热器表面之间的阻力。合理的热阻分配对于保证温度均衡至关
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[常见问题解答]IGBT功率模块散热不良的常见原因与优化思路[ 2025-04-12 11:01 ]
在现代电力电子设备中,IGBT(绝缘栅双极型晶体管)功率模块已经成为逆变器、电源、充电桩、新能源汽车及工业自动化等核心领域不可或缺的关键器件。然而,在实际应用过程中,IGBT模块的散热问题却始终是影响系统稳定性和使用寿命的重要因素。一旦散热处理不当,极易导致器件温度升高、性能衰退甚至失效。一、散热不良的常见原因1. 热阻过大是根源问题很多工程现场的IGBT模块散热问题,往往与热阻过大密不可分。热阻存在于IGBT内部芯片与DBC基板之间、DBC与散热器之间、以及散热器与外界空气之间。如果这三个位置的接触不良、材料不佳
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[常见问题解答]不同封装对比解析:如何为MDD整流二极管选型?DIP、SMA与DO-41谁更优?[ 2025-03-28 12:13 ]
在电子产品的电源模块设计中,MDD整流二极管作为核心元件之一,其封装形式不仅关系到器件的电气性能,还直接影响生产工艺、散热效率及系统成本。因此,工程师在选型阶段,必须全面考虑封装的适用性与工程匹配度。一、封装不仅是“外壳”许多初学者容易将整流二极管的封装误解为纯粹的外观包装,事实上,它对器件的工作电流、散热能力和机械强度有着决定性影响。例如,热阻(RθJA)越低,器件在同等功率下的温升就越小,从而提升整体系统的稳定性。封装形式同时决定安装方式,如是选择表贴(SMT)还是插件(THT),也会影
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[常见问题解答]避开整流桥选型误区:从电流冲击到热管理的全流程拆解[ 2025-03-24 11:20 ]
在构建电源系统时,整流桥件的选择往往隐藏着高风险。一旦选型错误,不仅会引发电气故障,还可能导致整机失效。特别是在高频、高浪涌和大电流环境中,整流桥的性能直接决定了系统的稳定性与寿命。一、误区一:忽略浪涌电流承受能力某变频空调上电瞬间出现超过180A的浪涌电流,然而其整流器的Ifsm耐值仅为90A,导致器件炸裂。核心问题:电容充电瞬态电流可能成倍放大,尤其是在低ESR输入下。建议方案:采用NTC浪涌抑制器限制初始电流,如选用5D-9系列热敏电阻,并对Ifsm参数留有50%以上冗余设计空间。二、误区二:热阻低估导致过温
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[常见问题解答]LED检测必备知识:你不可不知的五大测试标准[ 2024-07-12 11:34 ]
一、LED热学特性和结温测量在LED的应用中,热管理是不可忽视的一环。热阻和结温是评估LED热性能的两个关键指标。热阻定义为器件热流路径上的温差与功率耗散的比例,而结温则指的是LED的半导体结的实际温度。常用的结温测量技术包括红外测温和热偶测量法。前者通过捕捉芯片表面的红外辐射来估计温度,而后者则通过直接测量小型热偶的温度来确定。二、LED优势:节能与环保LED光源以其高效率和长寿命被广泛认可。相较于传统白炽灯,LED的能效高达20-28lm/w,寿命可超过100,000小时,显著优于其他类型的照明。此外,LED灯
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[常见问题解答]电力电子电路设计优化:利用仿真微调技术提升效率[ 2024-05-14 10:52 ]
在电力电子领域,准确度是至关重要的一个因素。仿真的精确性直接受到所使用的器件模型真实性的影响。不管是 IGBT、硅碳 (SiC) 还是硅基 MOSFET,其仿真的可信度都与模型的准确性紧密相连。有句古话说,“进垃圾,出垃圾”,意指如果输入的数据质量差,输出的结果也同样不佳。在设计系统级模型时,设计师通常依据产品手册中的实验室测试数据(如导通损耗、能量损耗和热阻等)来构建,而这一做法也被大多数行业标准采用。但是,这些基于手册的模型来源于特定的实验室设置和环境,通常不能全面反映出现实中各种环境条
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[常见问题解答]选择最佳功率MOSFET封装:应用场景的关键考虑因素[ 2024-05-08 10:00 ]
在电子设计领域,选择合适的功率MOSFET和功率模块封装是一个关键的决策点,尤其是在面对日益复杂的技术需求时。工程师在初步设计阶段需要从众多可用的封装选项中挑选出最佳的一个,这需要综合考虑热性能、成本、尺寸以及电气性能等多种因素。一、封装的热性能考虑封装的选择首先要考虑的是其热性能,因为它直接影响到功率器件的可靠性和效率。封装的热阻抗是评价其热性能的关键指标,它表明了封装在标准操作条件下从半导体结到环境的热传递能力。高热阻抗意味着封装的散热能力较差,可能导致器件在高功率应用中过热,从而影响性能和寿命。二、封装类型与
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[常见问题解答]LED封装类型全解析:新手必学的五种发光二极管设计[ 2024-04-10 11:26 ]
在当代的绿色光源领域,LED技术已成为光照设备核心的一环,突显了其核心地位。然而,LED的不同包装方式直接影响了其光效和性能,这就要求设计师们对包装设计给予足够的重视。针对各种独特的使用需求和光电性能指标,LED封装技术呈现多样化。总结来看,以下是几种主要的封装类型:一、功率级封装这类LED的封装多样,其共同特点是具有较大的底部接合面积和镜面反射功能,高导热系数以及极低的热阻,能够迅速将热量从芯片内部导出,保持芯片和外界环境之间的温差较小。这对于提升功率LED的性能至关重要。二、贴片式封装通过将LED芯片粘贴在微型
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[常见问题解答]电子电路中的热阻参数介绍[ 2024-01-05 18:26 ]
电子电路中的热阻参数介绍从电子流动的方向出发,阻碍电子流动的参数为电阻,在高频领域称为阻抗,在实际电路中,电路工作过程会产生大量功耗,所有的功耗均需要进行能量转换,其中,热能是需要考虑的重要的一点,从热流动的方向出发,阻碍热量流动的参数即为热阻。理想的元器件均不会考虑热的影响,但实际元器件全部离不开热的影响,从电阻到电容到芯片,所有的电子元器件都会有温度影响的参数曲线,实际应用中,热阻的理解类似于电阻。对于实际元器件,受加工工艺和应用的影响,器件引脚和器件封装只是一个外部体现,从热方面考虑,真正需要考虑的是器件的结
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[常见问题解答]MOS管、场效应管热阻如何测量[ 2023-08-09 17:57 ]
MOS管、场效应管热阻如何测量1、首先,明确两个概念:稳态热阻:两处测量点温差△T,单位时间内通过散热面的能量为Pd,热阻RΘ=△T/Pd,单位℃/W。它是一个反映了散热体散热性能的参数。热阻越大,散热越慢。(字面意思理解也很简单,阻碍热量传递的能力)瞬态热阻:因为电子器件的温升并不一定非常平滑。峰值温度往往比平均温度更加致命。所以峰值温度成为了限制器件工作特性的主要因素。温度的峰值往往出现在脉冲宽度tp较短,占空比D低的情况下,这说明器件的温升不仅仅与Pd相关了,还和脉冲宽度、脉冲形状(方波、锯齿波、正弦波这种的
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[常见问题解答]ESD二极管兼作温度传感器介绍[ 2023-02-09 16:26 ]
问:根据数据手册规格估算高速放大器的结温有多准确?结温是否易于测量?答:从环境温度(T一个)、功耗(PD),和热阻 θJA),如公式1所示。TJ = TA + PDθJA          (1)他告诉我一种替代方法,通过使用片上输出级保护二极管作为温度传感器来获得常用3端子稳压器的结温。他的公司在日常测试和评估期间使用保护二极管测量稳压器的结温。这种温度检测技术也可用于高速运算放大器。在图1中,二极管D3和D4保护运算放大器免受静电放电(ESD)的损坏。二极管 D
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[常见问题解答]MOS管参数详解[ 2022-12-26 16:03 ]
我们打开一个 MOS 管的 SPEC,会有很多电气参数,今天说一说热阻、电容和开关时间这三个。热阻,英文 Thermal resistance,指的是当有热量在物体上传输时,在物体两端温度差与热源的功率之间的比值,单位是℃/W 或者是 K/W。半导体散热的三个途径,封装顶部到空气,封装底部到电路板,封装引脚到电路板。结到空气环境的热阻用 ThetaJA 表示,ThetaJA = (Tj-Ta)/P其中Tj为芯片结温,Ta为芯片环境温度,如下图所示。还有一些其他的热阻参数如下:ThetaJC=(Tj-Tc)/P,结到
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[常见问题解答]MOS管SOA区间分析介绍[ 2022-12-23 14:17 ]
功率MOS在使用过程中是否能够安全持续的工作,是设计者必须要考虑的问题,设计者在应用MOS时,必须考虑MOS的SOA区间,我们知道开关电源中的MOS长期工作在高电流高电压下,很容易出现过热烧毁的情况,如果散热不及时的话,很容易发生爆炸。那什么是MOS的安全工作区域呢?我们称为SOA (Safe operating area)由一系列限制条件组成的一个漏源极电压VDS和漏极电流ID的二维坐标图,开关器件正常工作时的电压和电流都不应该超过该限定范围。结合功率MOSFET的耐压、电流特性和热阻特性,来理解功率MOSFET
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[常见问题解答]IGBT模块及散热系统的等效热模型介绍[ 2022-09-14 17:46 ]
功率器件作为电力电子装置的核心器件,在设计及使用过程中如何保证其可靠运行,一直都是研发工程师最为关心的问题。功率器件除了要考核其电气特性运行在安全工作区以内,还要对器件及系统的热特性进行精确设计,才能既保证器件长期可靠运行,又充分挖掘器件的潜力。而对功率器件及整个系统的热设计,都是以器件及系统的热路模型为基础来建模分析的,本文对IGBT模块的等效热路模型展开基础介绍,所述方法及思路也可用于其他功率器件的热设计。表征热特性的物理参数有两个:热阻R和热容C,热阻R是反映物体对热量传导的阻碍效果,而热容C则是衡量物质所包
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[行业资讯]RJK5030DPD场效应管参数 RJK5030DPD参数资料规格书〔壹芯微〕[ 2021-12-16 17:54 ]
RJK5030DPD场效应管参数 RJK5030DPD参数资料规格书〔壹芯微〕RJK5030DPD参数资料,选型替代,RJK5030DPD封装引脚图,数据手册,MOS管生产厂家漏源电压VDSS:500V栅源电压VGSS:30V漏极电流ID:5A漏极峰值电流ID(脉冲):20A雪崩电流IAP:5A通道耗散Pch:41.7W通道到外壳的热阻抗符号θch-c:3.0C/W通道温度Tch:150C储存温度Tstg:-55至+150C〔壹芯微〕国内功率半导体制造厂商,主营各类贴片与直插,二极管、三极管、MOS(场效应管)、可
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[行业资讯]TK4P50D场效应管参数 NDD05N50ZT4G参数资料规格书〔壹芯微〕[ 2021-12-15 15:17 ]
TK4P50D场效应管参数 TK4P50D参数资料规格书〔壹芯微〕TK4P50D参数资料,选型替代,TK4P50D封装引脚图,数据手册,MOS管生产厂家漏源电压(VDSS):500V栅源电压(VGSS):±30V雪崩电流(IAR):4A漏极电流-连续(TJ=25°C)(ID):4A漏极电流-脉冲(IDP):16A单脉冲雪崩能量(EAS):114mJ重复雪崩能量(EAR):8mJ功耗(TC=25°C)(PD):80W工作与贮存温度范围(TJ,TSTG):-55~150°С热阻-结
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[行业资讯]SS54L肖特基二极管参数,SS54L参数_中文资料_规格书下载[ 2021-11-18 18:03 ]
SS54L肖特基二极管参数,SS54L参数_中文资料_规格书下载SS54L参数及代换,SS54L中文资料,现货采购,二极管专业生产厂商SS54L肖特基封装引脚图壹芯微专业供应SS54L肖特基二极管,可替代昂贵的进口品牌对应型号。SS54L.pdf 数据手册(规格书)下载SS54L肖特基二极管主要参数如下:参数值单位最大重复峰值反向电压40V最大有效电压28V最大隔直电压40V最大平均正向整流电流5.0A峰值正向浪涌电流120A最大瞬时正向电压0.45V最大直流反向电流1.0mA典型结电容380pF典型热阻
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[行业资讯]CJD02N65场效应(MOS管)参数 报价 原厂直销 免费样品 - 壹芯微[ 2021-09-16 11:50 ]
CJD02N65场效应(MOS管)参数 报价 原厂直销 免费样品 - 壹芯微CJD02N65场效应管主要参数 极性:N沟道;电压(VDSS):650V;电流(ID):2A;封装(Pageke):TO-252;大芯片,高品质,原厂批量直销,提供技术支持,免费送样测试,替代原装进口品牌型号漏源电压 VDS 650 V栅源电压 VGSS ±20 V持续漏极电流 ID 2 A脉冲漏极电流 IDM 8 A单脉冲雪崩能量 (note1) EAS 128 mJ功率耗散 PD 1.25 W从结到环境的热阻 RθJA
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[常见问题解答]MOS管的知识-MOSFET耗散功率计算图文分析[ 2020-12-01 15:58 ]
MOS管的知识-MOSFET耗散功率计算图文分析计算MOSFET的耗散功率为了确定一个MOSFET是否适合于某特定应用,你必须计算一下其功率耗散,它主要包含阻性和开关损耗两部分:由于MOSFET耗散功率很大程度上依赖于它的导通电阻(Rds(ON),计算RDs(ON)看上去是一个很好的出发点。但是MOSFET的Rds(ON)与它的结温(Tj)有关。话说回来,Tj 又依赖于MOSFET的功率耗散以及MOSFET的热阻(θjA)。这样,似乎很难找到一个着眼点。由于功率耗散的计算涉及到若干个相互依赖的因素,我们可以采用一种
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[常见问题解答]mos管功耗-mos管功耗计算方法和MOS驱动基础[ 2020-09-09 14:45 ]
mos管功耗-mos管功耗计算方法和MOS驱动基础MOS管功耗,要确定一个MOSFET场效应管是否适于某一特定应用,需要对其功率耗散进行计算。耗散主要包括阻抗耗散和开关耗散:PDDEVICETOTAL=PDRESISTIVE+PDSWITCHINGmos管功耗-低功耗趋势封装的小型化使封装的热阻降低,功率耗散才能进步,相同电压电流规格或者功率规格的产品,个头小的,功率耗散才能更高,这似乎与我们的生活常识有些相悖,但是事实确实如此。VMOS的通态功耗,业界习气于用饱和导通电阻RDS(ON)来权衡,这是不太客观的,由于
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