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[常见问题解答]贴片电阻的银迁移问题及其对电路可靠性的影响[ 2025-04-22 12:03 ]
贴片电阻在现代电子设备中起着重要作用,广泛应用于调节电流、电压和减少噪声等功能。然而,随着电路的长期使用,贴片电阻可能会面临一系列问题,其中银迁移是一个常见的故障现象。银迁移不仅会影响电阻的性能,还可能对整个电路的可靠性造成严重影响。银迁移是指在电路中由于电流的作用,电阻表面上的银层发生迁移,导致金属材料在电路板上形成导电路径的现象。这一过程通常会在高温、高湿等环境条件下加速。电流通过电阻时,银会逐渐从电阻的表面迁移,最终形成可能导致短路或其他失效模式的导电桥。银迁移是一个逐步发展的过程,初期可能不易察觉,但随着时
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[常见问题解答]贴片电阻阻值下降原因及其失效模式研究[ 2025-04-22 11:34 ]
贴片电阻是现代电子设备中不可或缺的元件之一。它的作用是限制电流、调节电压以及减少电噪声等,但就像其他电子组件一样,贴片电阻也可能在使用过程中出现故障,其中最常见的问题之一就是阻值下降。阻值下降不仅影响电路的正常功能,还可能导致设备故障。因此,理解贴片电阻阻值下降的原因以及失效模式,对于提升电路可靠性和性能具有重要意义。一、贴片电阻的基本原理与结构贴片电阻一般由陶瓷或金属氧化物制成,通常呈现矩形或方形的形态,带有两个金属焊盘,用于与电路板连接。电阻的基本功能是限制电流流动,根据欧姆定律,电流流过电阻时,电压会被分压,
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[常见问题解答]快恢复二极管MDD失效模式及预防措施:解决短路、过载和过热问题[ 2025-04-10 12:12 ]
在现代电子电路中,快恢复二极管(MDD,Fast Recovery Diode)是高频整流和电力转换系统中常用的关键元件。它具有快速反向恢复时间和较低的反向恢复电流,在开关电源(SMPS)、功率因数校正(PFC)以及逆变器等高频电路中发挥着重要作用。然而,尽管MDD二极管在许多应用中表现出色,但它在工作过程中也可能会遇到失效问题,常见的失效模式包括短路、过载和过热等问题。一、短路失效模式及预防短路失效是MDD快恢复二极管在实际工作中最常见的一种故障模式,通常表现为二极管发生击穿,导致电流激增,最终引发电源过载或熔断
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[常见问题解答]整流二极管失效模式及其分析技术探讨[ 2025-01-20 10:56 ]
整流二极管作为电力电子设备中常用的关键元件,其失效模式的分析与研究对于提升系统的可靠性和稳定性至关重要。整流二极管广泛应用于各类电源转换电路中,承担着将交流电转化为直流电的任务,保证了电能的高效利用。然而,由于长期工作环境的不稳定性、设计不当或外部干扰,整流二极管可能会发生失效。一、整流二极管的常见失效模式整流二极管的失效模式通常包括以下几种:1. 过压失效当电路中的电压超过二极管的最大额定反向电压时,二极管会发生反向击穿,导致其失效。此种情况一般发生在电压突升或外部过电压的情况下,特别是在缺乏有效保护电路的场合。
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[常见问题解答]深入解析光耦失效模式与潜在后果[ 2024-08-22 09:58 ]
光耦合器件(光耦)在现代电子设备中扮演着至关重要的角色,主要用于实现电信号的隔离,确保不同电路之间安全、稳定的信号传输。尽管光耦在众多领域应用广泛,但其失效问题可能会对系统的整体性能和安全性造成严重影响。一、光耦失效模式详解光耦的失效模式多种多样,不同的失效模式可能源于不同的原因,以下是最常见的几种失效模式:1. 光耦老化失效  在长时间的使用过程中,光耦的核心元件——发光二极管(LED)和光敏元件会因持续的工作状态而逐渐老化。这种老化通常表现为LED光强的逐步衰减和光敏
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[常见问题解答]深入解析:TVS二极管失效原因及其预防措施[ 2024-05-10 09:58 ]
本文讲述了瞬变电压抑制器(TVS)的常见失效模式,尤其是短路问题,这种情况会导致连接设备受损,生产商和用户都希望尽量避免此类问题。本文通过解剖已失效的TVS设备,探讨了导致短路的各种原因。引言:TVS是一种用于保护电子设备免受电压瞬变和电浪涌影响的设备。它能迅速吸收高能量的电流,保护电路免受损坏。随着TVS的广泛应用,其自身的可靠性变得越来越重要。为了提高电子设备的整体可靠性,我们需要深入了解TVS的失效模式和原因。内在质量因素及其失效机理:TVS设备主要由芯片、电极系统和封装构成。芯片是设备的核心部分,通常是在单
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[常见问题解答]多层陶瓷电容(MLCC)的漏电原因解析[ 2022-01-07 12:03 ]
多层陶瓷电容(MLCC)的漏电原因解析多层瓷介电容器(MLCC),简称片式电容器,是由印好电极(内电极)的陶瓷介质膜片以错位的方式叠合起来,经过一次性高温烧结形成陶瓷芯片,再在芯片的两端封上金属层(外电极),从而形成一个类似独石的结构体,故也叫独石电容器。虽然MLCC功能简单,但是由于广泛应用于智能手机等电子产品中,一旦失效会导致电路失灵,功能不正常,甚至导致产品燃烧,爆炸等安全问题,其失效模式不得不受到品质检测等相关工程师的关注。而在多种失效模式中,电容漏电(低绝缘阻抗)是最常见的失效类型,其主要原因可分为制造过
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[常见问题解答]了解压敏电阻损坏的原因[ 2021-01-18 15:58 ]
了解压敏电阻损坏的原因压敏电阻的失效模式主要是短路,不过,短路并不会引起压敏电电阻损坏,因为电阻是并在电源正负入口的;保险是好的证明不是短路或过流引起的,有可能是浪涌能量太大,超出吸收功率烧毁压敏电阻;当通过的过电流太大时,也可能造成阀片被炸裂而开路。那么,压敏电阻损坏的原因有哪些呢?下面我们一起来了解:1.过压保护的次数;2.周围工作温度;3.压敏电阻有无受挤压;4.是否通过品质认证;5.浪涌能量太大,超出吸收功率;6.耐压不够;7.电流与浪涌过大等等。壹芯微科技针对二三极管,MOS管作出了良好的性能测试,应用各
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[常见问题解答]BMS常见失效模式与分析----单体电压检测模块[ 2020-07-09 17:16 ]
BMS常见失效模式与分析----单体电压检测模块BMS常见失效模式还是挺多的,我们分模块讨论,这次我们抛砖引玉,先从单体电压检测模块说起。目前电池单体电压检测功能大部分是采用ADI的LTC68XX系列AFE芯片实现。电池组铝排连接松动当串联连接电池组的铝排或铜排不牢固、松动时(如下图示),此时AFE电压采样的结果会怎样呢?图1我们先假设在放电阶段,其放电电流方向如上图标识。连接不牢固时,两个接触端点之间会有一个接触电阻。当电池组放电时,电流经过该接触电阻便会产生一个电压降(设该电压降为U1)。放电时,U1与电池电压
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[常见问题解答]mos管失效模式分析-MOS管失效的几大原因总结与详解[ 2020-03-13 12:24 ]
mos管失效模式分析-MOS管失效的几大原因总结与详解mos管失效模式分析-MOS管失效的几大原因总结MOS管失效的原因如下:1:雪崩失效(电压失效),也就是我们常说的漏源间的BVdss电压超过MOSFET的额定电压,并且超过达到了一定的能力从而导致MOSFET失效。2:SOA失效(电流失效),既超出MOSFET安全工作区引起失效,分为Id超出器件规格失效以及Id过大,损耗过高器件长时间热积累而导致的失效。3:体二极管失效:在桥式、LLC等有用到体二极管进行续流的拓扑结构中,由于体二极管遭受破坏而导致的失效。4:谐
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[常见问题解答]TVS二极管失效分析[ 2019-12-03 14:13 ]
TVS二极管失效分析摘要:常用电路保护器件的主要失效模式为短路,瞬变电压抑制器(TvS)亦不例外。TvS 一旦发生短路失效,释放出的高能量常常会将保护的电子设备损坏.这是 TvS 生产厂家和使用方都想极力减少或避免的情况。通过对 TVS 筛选和使用短路失效样品进行解剖观察获得其失效部位的微观形貌特征.结合器件结构、材料、制造工艺、工作原理、筛选或使用时所受的应力等。采用理论分析和试验证明等方法分析导致7rvS 器件短路失效的原因。分析结果表明引发 TvS 短路失效的内在质量因素包括粘结界面空洞、台面缺陷、表面强耗尽
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