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[常见问题解答]电子元器件失效分析知识[ 2020-03-04 12:20 ]
电子元器件失效分析知识电子信息技术是当今新技术革命的核心,电子元器件是发展电子信息技术的基础。了解造成元器件失效的因素,以提高可靠性,是电子信息技术应用的必要保证。开展电子元器件失效分析,需要采用一些先进的分析测试技术和仪器。1光学显微镜分析技术光学显微镜分析技术主要有立体显微镜和金相显微镜。立体显微镜放大倍数小,但景深大;金相显微镜放大倍数大,从几十倍到一千多倍,但景深小。把这两种显微镜结合使用,可观测到器件的外观,以及失效部位的表面形状、分布、尺寸、组织、结构和应力等。如用来观察到芯片的烧毁和击穿现象、引线键合
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