双脉冲测试基础原理和应用解析

双脉冲测试基础原理和应用解析

双脉冲是分析功率开关器件动态特性的基础实验方法，贯穿器件的研发，应用和驱动保护电路的设计。合理采用双脉冲测试平台，你可以在系统设计中从容的调试驱动电路，优化动态过程，验证短路保护。

双脉冲测试基础系列文章包括基本原理和应用，对电压电流探头要求和影响测试结果的因素等。

为什么要进行双脉冲测试？

在以前甚至是今天，许多使用IGBT或者MOSFET做逆变器的工程师是不做双脉冲实验的，而是直接在标定的工况下跑看能否达到设计的功率。这样的测试确实很必要，但是往往这样看不出具体的开关损耗，电压或者电流的尖峰情况，以及寄生导通情况。这会导致对有些风险的认识出现盲点，进而影响最后产品未来的长期可靠性。又或者设计裕量过大带来成本增加，使得产品的市场竞争力下降。如果能在设计研发阶段，精准地了解器件的开关性能，将对整个产品的优化带来极大的好处。比如能在不同的电压、电流和温度下获得开关损耗，给系统仿真提供可靠的数据；又比如可以通过观察波形振荡情况来选择合适的门极电阻。

双脉冲测试原理

顾名思义，双脉冲测试就是给被测器件两个脉冲作为驱动控制信号，如图1所示。第一个脉冲相对较宽，以获得一定的电流。同时第一个脉冲的下降沿作为关断过程的观测时刻，而第二个脉冲的上升沿则作为开通过程的观测时刻。

图1

考虑到可能的电场干扰，最佳的双脉冲平台是全桥结构的，如图2所示。3管的门极给15V常开信号，4管则是处于常关，2管作为被测器件给予双脉冲信号。1管主要作用于续流，所以门极可以是常关信号，或者在使用MOS管时门极用同步整流信号。第1个脉冲来临时，电流经过3管和负载电感进入2管。为了得到一个期望的电流值，此脉冲需持续一定时长，时长可通过T=I*L/V来获得，其中L是负载电感值，I是期望电流，V是母线电压。当然实际中可以直接用示波器观察电流值来调整脉宽。

第一个脉冲结束时，2管关断，表现出器件的关断波形。此后，电流在3管、负载和1管中续流。当第2个脉冲到来时，2管开通，1管上的电流重新流入2管，这时可测量1管的反向恢复特性及2管的开通特性。其中电流的获取在小功率时可以采用电流检测电阻，而大电流时一般使用磁性电流检测器，比如罗氏线圈或者Pearson磁环。

图2