MOS管、场效应管热阻如何测量

MOS管、场效应管热阻如何测量

1、首先，明确两个概念：

稳态热阻：两处测量点温差△T，单位时间内通过散热面的能量为Pd，热阻RΘ=△T/Pd，单位℃/W。它是一个反映了散热体散热性能的参数。热阻越大，散热越慢。（字面意思理解也很简单，阻碍热量传递的能力）

瞬态热阻：因为电子器件的温升并不一定非常平滑。峰值温度往往比平均温度更加致命。所以峰值温度成为了限制器件工作特性的主要因素。

温度的峰值往往出现在脉冲宽度tp较短，占空比D低的情况下，这说明器件的温升不仅仅与Pd相关了，还和脉冲宽度、脉冲形状（方波、锯齿波、正弦波这种的典型波形）、频率等有关联。稳态热阻的局限性就显现出来了。所以引入了瞬态热阻，用来衡量电路中开关时刻、浪涌时刻等瞬间的与散热相关的能力。

瞬态热阻的定义：在某一时间间隔的末尾，两处测试点的温度变化与引起这一变化的，在该时间间隔开始时按阶跃函数变化的耗散功率之比。ZΘ=r（tp，D）RΘ

r（tp，D）表示脉冲宽度与占空比之间的一个比例。不难看出瞬态热阻与稳态热阻具有关联性。瞬态热阻反映了散热体在热惯性的作用下，在热传递的过程中对热阻的改变。

2、结温与壳温

3、测试电路

原理图

万用表测得数据记为UR；